Новий інструмент прискорить пошук дефектів у нанометричних транзисторах, зробивши налагодження технологічних процесів простішим і приємнішим
Новий спосіб побачити атомні дефекти у сучасних напівпровідниках Вчені з Корнеллського університету разом із компаніями ASM і TSMC створили метод, що дозволяє візуалізувати прихов...